测试响应压缩相关论文
由于不确知那些不属于IP芯核测试集的测试矢量的无故障响应,造成在伪随机测试下测试者无法获取被测IP芯核的无故障特征,上述事实构......
进入深亚微米阶段以来,SoC的功能愈加强大使得测试数据量日益增加。大量测试数据在增加测试整体难度的同时,对已有测试设备的速度......
提出一种单输出压缩方法. 首先提出了码率为n/(n-1)、距离为3的卷积码的设计规则, 利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵, 该校验矩......
提出了一种片上系统内嵌IP芯核测试响应的空间压缩方法.将内建自测试中的测试矢量(样式)计算器状态作为空间压缩器的输入,只需利用......
为了减少利用奇偶树压缩测试响应时的故障覆盖损失 ,提出了一种输出端分组压缩的方法。该方法根据偶敏感故障对输出端的影响 ,把电......
提出一种单输出压缩方法.首先提出了码率为n/(n?1)、距离为3的卷积码的设计规则,利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵,该校验矩阵......
为了减少利用奇偶树压缩测试响应时的邦联覆盖损失，提出了一种输出端分组压缩的方法。遇敏感邦联对输出端的影响把电路的输出疝集合......
摘要：针对现有的测试响应压缩方法在未知位处理能力、混淆能力、诊断能力和压缩能力方面只侧重于单一能力的问题，首次将LDPC编码技术......
测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下，极大地降低测试时间和测试数据量，弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距，受到学术......
在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增......
由于不确知那些不属于IP芯核测试集的测试矢量的无故障响应，造成在伪随机测试下测试者无法获取被测IP芯核的无故障特征，上述事实构成......
测试已经成为系统芯片(SoC)设计过程中一个不可或缺的组成部分,而且随着芯片集成度和复杂度的不断提高,测试成本也随之增加。如果......
测试压缩在保障测试质量前提下，能有效地减少数字集成电路的测试数据量和测试时间。它作为弥补测试能力提升速度和摩尔定律之间的差......
