椭偏法相关论文
应用BlaineJohs方法对旋转检偏器类型椭偏光谱仪（RAE）进行了系统校正。使用了三种不同的样品。校正实验结果表明：对于自己设计建立的......
椭偏光谱测量结果不能直接反映所测量样品材料的结构和先学性质，需要利用最小二乘法来拟合分析椭偏光谱数据，而且椭偏光谱数据的分析......
采用单波长反射式椭偏仪以及多次旋转样品的方法,实现了光轴平行于表面的各向异性晶体光学参数的测量。分析了单波长椭偏法测量各......
研究了利用椭偏技术进行极化聚合物电光系数测量的方法。基于简化模型推导了γ33的计算公式，讨论了这种方法的有效性。......
在探索空间分束法消除椭偏测试中背反杂光干扰的过程中，发现该方案能够使光束在待测样品前表面聚焦，后表面发散，发散的背反光将无法进......
讨论了在单昌锗上为获得单波段（３－５μｍ）及双波段（３－５μｍ，８－１２μｍ）兼容ａ－Ｃ：Ｈ增透膜所必需的膜系设计，及用椭偏法对该膜进行的增透结果分析。结果表明，ａ－Ｃ：Ｈ膜是理想......
基于对椭偏测量数据中难以消除的系统误差的作用机理分析,提出了一种新型的薄膜光学参数表征误差处理技术。建议选取薄膜椭偏角关......
采用自主研制的双弯曲磁过滤阴极真空电弧(FCVA)技术,在不同衬底负偏压下制备了四面体非晶碳(ta-C)薄膜。通过分光光度计和椭偏(SE......
当薄膜厚度远小于光学波长时,由于薄膜的表面效应,薄膜的光学常数不仅具有波长色散关系,而且随薄膜厚度改变.对于不同厚度的薄膜,......
随着MEMS,微电子制造技术的不断发展,人们对于元件加工精度的要求越来越高,而实现这些的前提是能够达到纳米级的精密测量技术。在......
本文首先阐述了研究课题的研究背景和意义,及国内外发展动态.然后从四个方面入手,逐步对课题的各个主要内容进行描述.结合理论和实......
全球的环境污染与生态破坏使人们对全新无污染的清洁生产给予极大关注。光催化技术是一种新兴、高效、节能的现代绿色环保技术，光催......
为解决椭偏法测量薄膜厚度和折射率实验数据处理较为复杂的问题,采用一种新的基于群体智能的优化算法—差异进化算法处理实验数据；......
用Blanie Johs方法使用三种不同的样品对旋转检偏器类型椭偏光谱仪(RAE)进行了系统校正.校正实验结果表明:对于设计建立的系统,在......
火棉胶醋酸戊脂溶液常被用于医学治疗,在分析材料内部结构时,利用火棉胶醋酸戊脂溶液成膜后表现出的致密性和透光性,将其作为待分......
相位调制SPR传感器较其他三种调制模式有更高的灵敏度,被广泛地应用于生化检测等领域。目前用于SPR相位检测的方法主要有外差干涉......
用等离子体增强化学气相沉积（PECVD）方法制备了磷掺杂氢化非晶硅（a—Si：H）薄膜。分别以50°和70°为入射角，测试了样品在300-100......
为了分析透明均匀介质膜的椭偏方程中所隐含的椭偏参数和薄膜参数（膜厚、折射率）之间的误差关系,提出基于误差传递公式和反函数组定......
本文首先讨论了多入射角椭偏法同时测量衬底光学常数和膜参数时结果的唯一性跟各未知参数间相关性的关系,从而提出了选择合适入射......
采用椭偏法测量了拓扑绝缘体Bi 2Te 3单晶的复折射率.运用经典的德鲁德和托克-洛伦兹模型分别对拓扑绝缘体的表面态和体态进行拟合......
为解决椭偏法测量薄膜厚度和折射率实验数据处理较为复杂的问题，采用一种新的基于群体智能的优化算法一粒子群算法处理实验数据．以单......
为了实现光学材料参数高精度测量与初步检测材料快速进行.基于对椭偏法测量光学材料折射率的原理,对实验仪器的选取和实验过程进行......
主要讨论1/4波片误差对椭偏法测量薄膜厚度及折射率等参量的影响,质量理想的波片以及方位角的误差对PCSA系统测量结果的影响。......
文章首先说明了薄膜光学特性的测量在实际应用中的重要性，然后提出薄膜光学特性测量的方法——椭圆偏振法，详细推导了在用消光法计算......
根据菲涅尔全内反射相变理论,给出了双菱体λ/4消色差器的结构设计、性能分析和测量方法.由有效通光孔径和光线追迹设计出BK7玻璃......
基于光学薄膜反射椭偏法的测量原理，对光学薄膜散射椭偏特性进行了研究。给出了光学薄膜散射逆问题的解决方法，并对不同脉冲频率下采......
粒子复折射率是计算粒子光散射特性的重要参数．传统的KBr样片透射测量粒子复折射率的方法过程复杂，对颗粒物粒径要求满足Mie散射条件......
有机高分子材料大多具有化学稳定性、良好的加工性、密度小和成本较低等特点,广泛应用于航空航天、光学透镜、电子行业、辐射制冷......
为解决椭偏法测量薄膜厚度和折射率实验数据处理较为复杂的问题，采用一种新的基于群体智能的优化算法——粒子群算法处理实验数据．以......
为了实现针对平面光学元件的微位移测量,提出了一种新型的基于消光式椭偏法的测量方法.通过对光线传播过程中椭圆偏振态的变化进行......
采用不同的光学模型对厚度为6nm，密度为2．2g/cm2。的理想Si02薄膜理论曲线进行了拟合，得到了薄膜厚度的计算结果随所采取的薄膜密度变......
<正> WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质......
简述了椭偏法测量非粗糙面薄膜的折射率和厚度的基本原理,推导出粗糙面薄膜的漫反射椭偏方程,给出了C语言计算程序的流程图,并对实......
类金刚石（Diamond Like Coobon，DLc）薄膜在光学领域主要用做红外区高强度减反射光学薄膜，准确测定薄膜的消光系数走，是评价薄膜吸收特性......
为确保用于薄膜椭偏参数反演计算的粒子群算法收敛于全局最优值，采用标准粒子群算法，学习参数c1和c2采用线性关系kc1＋c2=d，选取不同惯......
颗粒态材料可以弥散在气体、液体及固体中,从而形成气溶胶、颗粒混悬液及固体复合材料。以微纳米流体及生物细胞混悬液为代表的颗......
极薄银在滤光片、高反射镜等中有广泛的应用，其光学常数严重影响着膜系的特性。在室温条件下，采用电阻热蒸发技术分别在硅和玻璃基底......
电子衍射在现代物理中占有重要地位,是人们探索物质结构的重要途径之一。随着人们对微观世界认识的不断加深,标定电子衍射花样成为......
用椭偏法测量了入射光波长0.632μm、入射角50°至85°时某合金钢的光学常数。考虑材料表面的粗糙度,用Ohlidal-Lukes理论对所测光......
采用椭偏法测量入射光波长为0．632μm，入射角为50°～85°时合金钢的光学常数。考虑材料表面的粗糙度，用Ohlidal—Lukes理论对......
光子晶体最本质特征是具有光子带隙,即频率处于光子带隙范围内的光或电磁波在光子晶体中传播是被严格禁止的。光子晶体的性能是由......
左手材料（LHM）是近年来电磁学领域研究的热点问题,越来越引起研究者的广泛关注。LHM是一种介电常数和磁导率同时为负值的人工合成材......
从麦克斯韦方程出发,可以得到超薄金属膜层光学常数n、k与其厚度有关系的理论依据。采用电阻热蒸发和电子束热蒸发的方法在K9玻璃......
金属薄膜是光学薄膜的重要组成部分,随着材料科学、真空技术与薄膜产业的发展,金属薄膜已广泛应用于光电薄膜器件中。但是由于超薄......
