JWH—1A型晶体管涡流测厚仪

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JWH—1A型晶体管涡流测厚仪主要用来测量铝及其合金材料的氧化膜厚度,也能测量其他非磁性金属表面的绝缘层厚度。它的测量范围及精度:0~50±1.5微米;0~100±3微米。可测最小外径φ8毫米,最小内孔φ20毫米。JWH—1A型涡流测厚 JWH-1A-type transistor eddy current thickness gauge is mainly used to measure the oxide film thickness of aluminum and its alloy materials, but also to measure the thickness of the insulation layer on other non-magnetic metal surfaces. Its measurement range and accuracy: 0 ~ 50 ± 1.5 microns; 0 ~ 100 ± 3 microns. Measurable minimum outer diameter φ8 mm, the smallest hole φ20 mm. JWH-1A eddy current thickness measurement
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