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为了解决测试信息传递的问题,IEEE组织推出了IEEE1500 IP（Intellectual Property）核测试封装标准以标准化IP核测试接口.然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患.本文提出了一种基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法.这种方法的核心思想是在典型的测试封装边界单元的基础上添加一个CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）传输门,有效消除了测试过程中扫描移位对被测IP核电路的影响.实验结果表明,这种基于安