2英寸AlGaN/GaN HEMT工艺研究

来源 :第十三届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议暨第九届全国固体薄膜学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zshuangjiamin
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本文基于国产2英寸AlGaN/GaN材料,对2英寸AlGaN/GaN HEMT工艺进行了研究,成功地开发出成套2英寸AlGaN/GaN HEMT功率器件工艺.其关键工艺技术包括:台面隔离、欧姆接触、钝化、电镀空气桥等技术.经过工艺投片,获得性能良好的AlGaN/GaN HEMT功率器件,器件成品率达到90﹪.
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在4H-SiC样品上采用磁控溅射的方法分别沉积Cu,Ni金属薄膜形成Schottky接触并进行了不同温度下的退火,通过I-V测试研究不同温度退火对Schottky势垒高度以及理想因子的影响.样品经过不同温度的退火后,发现Cu,Ni/4H-SiC的势垒高度(SBH)随退火温度的升高而提高,但超过某一温度(Cu/SiC约500·,Ni/SiC约700·)时,其整流特性变差.测试的结果表明,所制备的金属
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制约碳化硅MOS器件特性的主要因素是SiO/SiO的界面特性和栅氧化层的质量,本文主要对6H-SiC MOSFET器件沟道热载流子的产生和其对栅氧化层的注入过程作了较为深入的分析.界面陷阱的存在和薄栅氧化层中电子能量分布较宽使得陷落的电子与栅氧化层碰撞理发离,从而产生电子陷落—空穴湮灭的过程.因此在对器件瞬态电流变化的模拟测试中综合体现了沟道热载子产生和栅氧化层碰撞电离的过程.
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